簡要描述:XPR-300型透射偏光熔點(diǎn)測定儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化 學(xué)纖維、半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗(yàn)等部門和相關(guān)高等院校的高分子...等專業(yè)Z常用的專業(yè)實(shí)驗(yàn)儀器??晒V大用戶作單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察以及顯微攝影,來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。
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品牌 | CAIKON/蔡康光學(xué) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 類型 | 顯微熔點(diǎn)儀 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油,地礦,能源,制藥 |
XPR-300型透射偏光熔點(diǎn)測定儀
是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化 學(xué)纖維、半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗(yàn)等部門和相關(guān)高等院校的高分子...等專業(yè)zui常用的專業(yè)實(shí)驗(yàn)儀器??晒V大用戶作單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察以及顯微攝影,來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。
本系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于高分子材料、聚合物材料等化工領(lǐng)域,適用于研究物體的結(jié)晶相態(tài)分析、共混相態(tài)分布、粒子分散性及尺寸測量、結(jié)晶動(dòng)力學(xué)的過程記錄分析、液晶分析、織態(tài)結(jié)構(gòu)分析、熔解狀態(tài)記錄觀察分析等總多研究方向。
偏光顯微熔點(diǎn)測定儀XPR-300系統(tǒng)匯集了光電、模式識(shí)別、精密加工、圖象學(xué)、自動(dòng)控制、模量學(xué)等總多研究領(lǐng)域的當(dāng)前技術(shù),多年研究開發(fā)的結(jié)果,在國內(nèi)享有.本儀器的具有可擴(kuò)展性,可以接計(jì)算機(jī)和數(shù)碼相機(jī)。對(duì)圖片進(jìn)行保存、編輯和打印。
二、儀器的主要技術(shù)指標(biāo)
1.顯微鏡技術(shù)參數(shù): 名稱 規(guī)格
總放大倍數(shù): 40X---630X
無應(yīng)力消色差物鏡 4X/0.1 10X/0.25 25X/0.40 40X/0.65彈簧 63X/0.85彈簧
目鏡 10X十字目鏡 10X分劃目鏡
試片 石膏1λ試片 云母1/4λ試片 石英楔子試片
測微尺 0.01mm
濾色片 藍(lán)色
帶座目鏡網(wǎng)絡(luò)尺
移動(dòng)尺 移動(dòng)范圍30mm×40mm
鏡筒 三目觀察
2.熔點(diǎn)儀技術(shù)參數(shù):
熱臺(tái)組成 性能
顯微精密控溫儀
在 20倍物鏡下工作溫度可達(dá)到zui高300 ℃ 、溫度運(yùn)行程序全自動(dòng)控制;溫度程序段由用戶自行設(shè)定, 30段溫度編程,循環(huán)操作,能準(zhǔn)確反映設(shè)定溫度、爐芯溫度、樣品的實(shí)際溫度。每段設(shè)定起始溫度,及在該段內(nèi)可維持時(shí)間,升溫速率可調(diào)、精度 ± 0.3 ℃、記憶點(diǎn)讀數(shù)
可以隨載物臺(tái)移動(dòng)、工作區(qū)加熱面積大、透光區(qū)域可調(diào)、工作區(qū)溫度梯度低于± 0.1
? 起始溫度室溫
? 工作區(qū)加熱使用面積至少 1X1厘米
? 工作區(qū)溫度梯度不超過 ± 0.1
? 透光區(qū)域 2mm以上,可調(diào)
? 顯示溫度與實(shí)際溫度誤差不超過 ± 0.2
? 熱臺(tái)可以隨載物臺(tái)移動(dòng)
在加熱狀態(tài)下zui高可使用 20倍物鏡
注意:熔點(diǎn)測定(溫度超過100度時(shí),25X的物鏡工作距離
太近,容易損壞鏡頭,請選用長工作距離的物鏡25X、40X的物鏡)
三、系統(tǒng)數(shù)字性 XPR-300C型偏光熔點(diǎn)儀系統(tǒng)是將精銳的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、*光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、*的計(jì)算機(jī)成像技術(shù)和精密的溫控技術(shù)*地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項(xiàng)高科技產(chǎn)品??梢栽谟?jì)算機(jī)上很方便地觀察不同溫度下的偏光效果圖像,并對(duì)偏光圖譜進(jìn)行分析,處理,還可輸出或打印偏光圖片。
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